名片曝光使用說(shuō)明

步驟1:創(chuàng)建名片

微信掃描名片二維碼,進(jìn)入虎易名片小程序,使用微信授權(quán)登錄并創(chuàng)建您的名片。

步驟2:投放名片

創(chuàng)建名片成功后,將投放名片至該產(chǎn)品“同類優(yōu)質(zhì)商家”欄目下,即開啟名片曝光服務(wù),服務(wù)費(fèi)用為:1虎幣/天。(虎幣充值比率:1虎幣=1.00人民幣)

關(guān)于曝光服務(wù)

名片曝光只限于使用免費(fèi)模板的企業(yè)產(chǎn)品詳細(xì)頁(yè)下,因此當(dāng)企業(yè)使用收費(fèi)模板時(shí),曝光服務(wù)將自動(dòng)失效,并停止扣除服務(wù)費(fèi)。

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產(chǎn)品推薦
smt首件測(cè)試儀
80000元/件
smt首件測(cè)試儀

首件檢測(cè),顧名思義就是在貼片機(jī)作業(yè)完成后,回流焊作業(yè)前的那道工序,首件確認(rèn)的意義,就在于防止批量錯(cuò)誤的產(chǎn)生,首件確認(rèn)沒有完成前,整個(gè)生產(chǎn)線就必須停產(chǎn)等待,所以首件確認(rèn)的重要性可想而知。然而在傳統(tǒng)的首件確認(rèn)環(huán)節(jié)中,是由一人確認(rèn)首件,一人確認(rèn)BOM表和位號(hào)圖,那么當(dāng)一塊首件的點(diǎn)數(shù)達(dá)到幾千個(gè)的時(shí)候,人工作業(yè)的弊端就一覽無(wú)遺了:效率低下,出錯(cuò)率高,人員容易疲勞等等??梢哉f(shuō),首件確認(rèn)已經(jīng)成為了SMT生產(chǎn)的一個(gè)瓶頸崗位,行業(yè)迫切需要首件確認(rèn)環(huán)節(jié)的智能化。

  HUSTEC-820智能首件檢測(cè)儀是由 深圳市華科智源科技有限公司 自主研發(fā)設(shè)計(jì),擁有獨(dú)立知識(shí)產(chǎn)權(quán)的高科技產(chǎn)品。它是針對(duì)SMT首件確認(rèn)環(huán)節(jié)實(shí)現(xiàn)減人增效的創(chuàng)新方案。它通過(guò)整合并智能分析BOM和CAD,結(jié)合高清掃描的PCBA首件圖像自動(dòng)生成檢測(cè)程序,快速準(zhǔn)確的對(duì)元件逐一檢測(cè),并自動(dòng)判定檢測(cè)結(jié)果。檢測(cè)完成后,自動(dòng)生成、保存檢測(cè)報(bào)表,方便生產(chǎn)追溯。

     


  

一、 華科智源科技SMT首件檢測(cè)儀主要功能介紹:

1.節(jié)省人員:由2人檢測(cè)改為1人檢測(cè)。
2.提高效率:首件檢測(cè)提速2倍以上,測(cè)試過(guò)程無(wú)需切換量程,無(wú)需人工對(duì)比測(cè)量值。 
3.可靠性:華科智源科技SMT首件檢測(cè)儀將BOM,坐標(biāo)及圖紙進(jìn)行完美核對(duì),實(shí)時(shí)顯示檢測(cè)情況,避免漏檢,可方便根據(jù)誤差范圍 對(duì)元件值合格值自動(dòng)判定,對(duì)多貼,錯(cuò)料,極性和封裝進(jìn)行方便檢查;傳統(tǒng)方式完全依靠人員把關(guān),容 易出錯(cuò)。 
4.可視性:華科智源科技SMT首件檢測(cè)儀系統(tǒng)對(duì)PCB位號(hào)圖或者掃描PCB圖像,將實(shí)物放大幾十倍,清晰度高,容易識(shí)別和定位; 傳統(tǒng)方式作業(yè)員需要核對(duì)BOM,元件位置圖以及非LCR背光絲印,容易視覺疲勞,導(dǎo)致容易出錯(cuò)。 
5.可追溯性:華科智源科技SMT首件檢測(cè)儀自動(dòng)生成首件檢測(cè)報(bào)告,并可還原檢測(cè)場(chǎng)景。 
6.更加準(zhǔn)確:華科智源科技SMT首件檢測(cè)儀使用高精度LCR測(cè)試儀代替萬(wàn)用表。 
7.工藝圖紙:華科智源科技SMT首件檢測(cè)儀可同時(shí)生成SMT首件工藝圖紙,方便品管或維修人員使用,華科智源科技SMT首件檢測(cè)儀獨(dú)有功能。 

深圳市華科智源科技有限公司致力于全球電力電子測(cè)試方案提供商,主要提供SMT首件檢測(cè)儀,電力電子相關(guān)的大功率分立器件測(cè)試儀、IGBT測(cè)試儀、變流器IGBT測(cè)試儀,牽引系統(tǒng)IGBT測(cè)試儀,半導(dǎo)體參數(shù)圖示儀、IGBT動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試儀、IGBT靜態(tài)參數(shù)測(cè)試儀、IPM測(cè)試儀、雪崩耐量測(cè)試儀、晶體管圖示儀,浪涌電流測(cè)試儀,IGBT雙脈沖測(cè)試臺(tái),二極管反向恢復(fù)測(cè)試儀等功率半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備。


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