華科智源研發(fā)生產(chǎn)半導(dǎo)體測試設(shè)備,提供ITC57300mos管IGBT功率器件動態(tài)參數(shù)測試儀,大功率IGBT到小功率管MOS的測試, 包括動態(tài)參數(shù)和靜態(tài)參數(shù)測試,雪崩能量測試以及熱阻測試, 索取相關(guān)資料和報價請聯(lián)系陳先生 130零8867918
ITC57300是美國ITC公司設(shè)計生產(chǎn)的高集成度功率半導(dǎo)體分立器件動態(tài)參數(shù)測試設(shè)備,采用測試主機(jī) 功能測試頭 個性板的測試架構(gòu),可以滿足N溝道、P溝道器件、雙極晶體管等的各項(xiàng)動態(tài)參數(shù)的測試要求,且具有波形實(shí)時顯示分析功能,是目前具水平的完備的動態(tài)參數(shù)測試設(shè)備。
ITC57300動態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)主機(jī)可執(zhí)行非破壞性的瞬態(tài)測量測試,包括對半導(dǎo)體器件絕緣柵雙極晶體管(IGBT),功率MOSFET,二極管,雙極型器件的測試頭。主機(jī)包括所有測試設(shè)備和必要的軟件分析,可執(zhí)行電阻和電感的開關(guān)時間,開關(guān)損耗,柵極電荷,TRR /的Qrr和其他瞬態(tài)測試。
ITC57300能力
測試電壓:1200 VDC 200(短路電流可達(dá)1000A)
定時測量:較低為1 ns
漏電流限制監(jiān)視器
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