機(jī)器視覺檢測(cè)技術(shù)發(fā)展強(qiáng)勁 　　機(jī)器視覺檢測(cè)技術(shù)在國外發(fā)展很快，早在20世紀(jì)80年代，美國標(biāo)準(zhǔn)局就曾預(yù)計(jì)未來90％的檢測(cè)任務(wù)將由機(jī)器視覺檢測(cè)系統(tǒng)來完成。因此僅在80年代，美國就有100多家公司躋身于機(jī)器視覺檢測(cè)系統(tǒng)的經(jīng)營(yíng)市場(chǎng)，可見機(jī)器視覺檢測(cè)系統(tǒng)確實(shí)很有發(fā)展前途。在近幾屆北京國際機(jī)床展覽會(huì)上已經(jīng)見到國外企業(yè)展出的應(yīng)用視覺檢測(cè)技術(shù)研制的先進(jìn)儀器，如流動(dòng)式光學(xué)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)、高速高精度數(shù)字化掃描系統(tǒng)、非接觸式光學(xué)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)等。 　　現(xiàn)代檢測(cè)技術(shù)是工業(yè)發(fā)展的基礎(chǔ)，測(cè)量的精度和效率在一定程度上決定了制造業(yè)乃至科學(xué)技術(shù)發(fā)展的水平?，F(xiàn)代檢測(cè)技術(shù)要能適應(yīng)快速發(fā)展的制造業(yè)，根據(jù)先進(jìn)制造技術(shù)發(fā)展的要求，以及精密測(cè)量技術(shù)自身的發(fā)展規(guī)律，不斷拓展新的測(cè)量原理和測(cè)試方法。近年來，機(jī)器視覺檢測(cè)技術(shù)在各大行業(yè)可謂建功無數(shù)，其發(fā)展勢(shì)頭強(qiáng)勁，主要體現(xiàn)在以下幾個(gè)方向： 　　1、在線測(cè)量 　　在線測(cè)量就是在生產(chǎn)線上對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行檢測(cè)，這樣可以及時(shí)地得到產(chǎn)品的測(cè)量信息，并實(shí)時(shí)反饋給生產(chǎn)設(shè)備，來改進(jìn)工藝、提高制造精度、降低廢品率，為實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品制造的零廢品控制提供了可能。在相當(dāng)長(zhǎng)的一段時(shí)期內(nèi)，測(cè)量基本上是靜態(tài)的，即測(cè)量對(duì)象在測(cè)量過程中不變化或不明顯變化；同時(shí)測(cè)量大多數(shù)是離線的，而不是在生產(chǎn)進(jìn)行過程中實(shí)現(xiàn)的。進(jìn)行在線測(cè)量可以降低消耗、減少成本、增加產(chǎn)量、增加效益，還可以產(chǎn)品的質(zhì)量。 　　2、高精度 　　隨著現(xiàn)代科學(xué)技術(shù)的不斷發(fā)展，眾多高科技領(lǐng)域均已進(jìn)入了納米世界，如精密元器件的測(cè)量、電子工業(yè)高密度半導(dǎo)體集成電路等等。納米技術(shù)的加工離不開納米精度的測(cè)量技術(shù)和設(shè)備，目前，國外一些研究機(jī)構(gòu)不僅已在表面輪廓、長(zhǎng)度、基本常數(shù)等測(cè)量上達(dá)到了納米級(jí)，而且還在一維位移和微觀形貌測(cè)量上實(shí)現(xiàn)了0.1 納米級(jí)。納米測(cè)量的主要儀器有光干涉測(cè)量?jī)x、量子干涉儀、電容測(cè)微儀、電感測(cè)微儀、X 射線干涉儀、掃描電子顯微鏡（SEM）、掃描隧道顯微鏡（STM）、原子力顯微鏡（AFM）等。 　　3、非接觸 　　非接觸檢測(cè)具有沒有測(cè)量力、精度高、易實(shí)現(xiàn)在線測(cè)量等優(yōu)點(diǎn)，應(yīng)用越來越廣泛。非接觸檢測(cè)技術(shù)很多，比較常用的是電容測(cè)量方法和光學(xué)測(cè)量方法。 相關(guān)信息來源：www.szgrd.com