名片曝光使用說(shuō)明

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一、X射線概述

放射學(xué)作為五種常規(guī)檢測(cè)方法之一,在工業(yè)上得到了廣泛的應(yīng)用。目前,根據(jù)ASTM的定義,射線檢測(cè)可分為四類:照相檢測(cè)、實(shí)時(shí)成像檢測(cè)、斷層掃描檢測(cè)等射線檢測(cè)技術(shù)。

X光和自然光之間沒(méi)有本質(zhì)的區(qū)別。它們都是電磁波,但X射線量子的能量遠(yuǎn)大于可見(jiàn)光。它能穿透可見(jiàn)光不能穿透的物體,同時(shí)與物質(zhì)有復(fù)雜的物理化學(xué)相互作用。它能電離原子,使某些物質(zhì)發(fā)出熒光,也能使某些物質(zhì)產(chǎn)生光化學(xué)反應(yīng)。如果工件局部有缺陷,會(huì)改變物體對(duì)光線的衰減,引起透射光線強(qiáng)度的變化。這樣,利用一定的檢測(cè)方法,如膜感度,來(lái)檢測(cè)傳輸線的強(qiáng)度,就可以判斷工件是否有缺陷,以及缺陷的位置和大小。只要缺陷在傳輸“497”中有一定的尺寸,它的衰減系數(shù)就不同于物體的線性衰減系數(shù),并且散射比控制在一定范圍內(nèi),就可以得到缺陷引起的對(duì)比度并找到缺陷。

二、X射線探傷原理

(1)X射線的特征X射線是非常短波長(zhǎng)的電磁波并且是光子。

x射線有下列特點(diǎn):

1。穿透X射線可以穿透普通可見(jiàn)光無(wú)法穿透的物質(zhì)。穿透能力與X射線的波長(zhǎng)、穿透材料的密度和厚度有關(guān)。X射線波長(zhǎng)越短,穿透力越大;密度越低,厚度越薄,X射線穿透越容易。

2電離當(dāng)X射線或其他射線(如伽馬射線)被物質(zhì)吸收時(shí),組成物質(zhì)的分子被分解成正離子和負(fù)離子,這被稱為電離。離子的數(shù)量與物質(zhì)吸收的X射線的量成比例??梢酝ㄟ^(guò)空氣或其他物質(zhì)測(cè)量電離程度來(lái)計(jì)算X射線的量。檢測(cè)設(shè)備檢測(cè)零件的缺陷檢測(cè)。 X射線具有其他效果,例如敏化和熒光。

(2)影像形成原理

X射線圖像形成的基本原理是由于X射線的特性以及部件的密度和厚度的差異。

三、應(yīng)用類型

射線檢測(cè)技術(shù)可分為以下四類應(yīng)用。

(1)質(zhì)量檢測(cè)

可用于鑄造、焊接工藝缺陷檢測(cè)。

(2)測(cè)量厚度

可用于在線,實(shí)時(shí),非接觸式厚度測(cè)量。

(3)物品檢查

可用于機(jī)場(chǎng)、車站、海關(guān)查驗(yàn)、結(jié)構(gòu)尺寸的確定。

(4)動(dòng)態(tài)研究

它可用于研究動(dòng)態(tài)過(guò)程,如彈道、爆炸、核技術(shù)和鑄造技術(shù)。

四、X射線檢測(cè)優(yōu)勢(shì)

它不會(huì)損壞被檢查物體,方便實(shí)用。它可以實(shí)現(xiàn)其他檢測(cè)手段無(wú)法實(shí)現(xiàn)的獨(dú)特檢測(cè)效果。使用面部寬度,薄膜存檔很長(zhǎng)時(shí)間以便于事故分析,并且可以直觀地顯示缺陷圖像。

公司名稱:蘇州宜凱檢測(cè)技術(shù)有限公司

公司網(wǎng)址:http://www.ekaijc.com/



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