太陽(yáng)能電池片測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)：　 該設(shè)備專門用于太陽(yáng)能單晶硅、多晶硅、非晶硅電池組件的電性能測(cè)試?！? 通過(guò)模擬太陽(yáng)光譜光源，對(duì)電池組件的相關(guān)電參數(shù)進(jìn)行測(cè)量?！? 的校正裝置，輸入補(bǔ)償參數(shù)，進(jìn)行自動(dòng)/手動(dòng)溫度補(bǔ)償和光強(qiáng)度補(bǔ)償，具備非接觸式自動(dòng)測(cè)溫與溫度修正功能?！? 基于Windows的操作界面，測(cè)試軟件人性化設(shè)計(jì)，記錄并顯示測(cè)試曲線（I-V曲線、P曲線）和測(cè)試參數(shù)（Voc、Isc、Pmax、Im、Vm、FF、EFF、Temp），測(cè)試結(jié)果語(yǔ)音提示，序列號(hào)自動(dòng)生成，保存到文件夾?！? 太陽(yáng)能電池片測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：　 型號(hào)規(guī)格：SMT-A SMT-B SMT-F　 輻照不均勻度：≤±2%（SMT-A） ≤±3%（SMT-B） ≤±2%（SMT-F）　 輻照不穩(wěn)定度：≤±2%（SMT-A） ≤±3%（SMT-B） ≤±2%（SMT-F）　 測(cè)試結(jié)果一致性：≤±0.5%（SMT-A） ≤±1%（SMT-B） ≤±0.5%（SMT-F）　 電性能測(cè)試誤差：≤±1%（SMT-A） ≤±2%（SMT-B） ≤±1%（SMT-F）　 單次閃光時(shí)間：10ms　 光譜范圍：符合IEC60904-9要求（A級(jí)）　 輻照強(qiáng)度：100mW/cm2(調(diào)節(jié)范圍70~120mW/cm2)　 有效測(cè)試面積：1200mm×2000mm　 有效測(cè)試范圍：10W~300W　 測(cè)量電壓：1V~10V(分辨率1mV)　 測(cè)量電流：100mA~20A(分辨率1mA)　 測(cè)試參數(shù)：Isc 、Voc 、Pmax 、Vm 、Im 、FF、 EFF 、Temp　 數(shù)據(jù)采集：含8000個(gè)數(shù)據(jù)采集點(diǎn)　 應(yīng)用領(lǐng)域：專門用于太陽(yáng)能單晶硅、多晶硅、非晶硅電池組件的電性能測(cè)試?！? 太陽(yáng)能電池片測(cè)試儀設(shè)備整機(jī)配置 1、測(cè)試主機(jī)（含電子負(fù)載） 2、光源 3、計(jì)算機(jī) 4、14位同步高速A/D板卡 5、專用測(cè)量軟件 6、打印機(jī)（A4噴墨彩色打印機(jī)） 7、標(biāo)準(zhǔn)電池（用于調(diào)整光強(qiáng)和校正光強(qiáng)均勻度） 太陽(yáng)能電池組件測(cè)試應(yīng)用領(lǐng)域：專門用于太陽(yáng)能單晶硅、多晶硅、非晶硅電池組件的電性能測(cè)試。