一、主要特點 主要用于半導(dǎo)體硅晶片檢測、LCD液晶屏檢測、實驗室材料分析及其他精密工程檢測領(lǐng)域，可對樣品進行明場及簡易偏光觀察。 二、儀器介紹　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　 1）系統(tǒng)采用無限遠色差正光學(xué)、長工作距，成像清晰、像面平坦 2）配備反射式柯拉照明系統(tǒng)，為不同倍率的物鏡提供均勻充足的照明 3）正像三通觀察筒，30°傾斜，極大的提高了觀察的舒適性與操作的適應(yīng)性 4）配備了4”帶離合器機械平臺，行程105*105mm，可快速移動 5）人機學(xué)設(shè)計，高剛性鏡臂，“Y”型底座，調(diào)焦機構(gòu)采用前置式操作控制，粗微調(diào)同軸 6）光源采用寬電壓數(shù)字調(diào)光技術(shù)，具有光強設(shè)定與復(fù)位功能 7）可選配攝影攝像裝置、簡易偏光裝置、干涉濾光片、測微尺等附件，拓展應(yīng)用領(lǐng)域 三、技術(shù)參數(shù) 光學(xué)系統(tǒng): 無限遠色差校正光學(xué)系統(tǒng) 物鏡: 無限遠長工作距金相物鏡 5X、10X、20X、50X、80X、 目鏡: 高眼點平場目鏡，PL10X，線視場φ22mm 高眼點平場目鏡，PL15X，線視場φ16mm 觀察筒: 正像，鉸鏈式三目，30°傾斜，分光比：雙目，三目 照明系統(tǒng): 反射式柯拉照明，帶簡易偏光接口，12V/100W鹵素?zé)?，，帶針孔光闌 調(diào)焦機構(gòu): 粗微調(diào)同軸，帶粗調(diào)上限位、松緊調(diào)節(jié)裝置和隨機限位裝置 粗調(diào)行程：33mm（焦后1mm），微調(diào)精度：0.001mm 較大樣品高度：32mm 物鏡轉(zhuǎn)換器: 內(nèi)定位、內(nèi)傾式、五孔、明場長工作距離物鏡轉(zhuǎn)換器 載物臺:4英寸矩形，機械移動平臺230mmX215mm，移動行程：105mmX105mm 低位同軸調(diào)節(jié)，可快速移動 機架: 全新的人機工程學(xué)設(shè)計，高剛性鏡臂，“Y”型底座，前置式操作控制 四：選購附件: 攝影攝像裝置、簡易偏光裝置、干涉濾光片、測微尺等