ATi憑借其內(nèi)置的20個(gè)節(jié)點(diǎn)的開(kāi)爾文矩陣、測(cè)量范圍廣泛的各種可用測(cè)試參數(shù)、LCR表模式、測(cè)試結(jié)果軟件、用戶友好型處理程序、OLE和條形碼接口以及廣泛的頻率和測(cè)試范圍，ATi代替了之前的測(cè)試低電壓繞線和無(wú)源元件所需的許多不同儀表。 特點(diǎn)及優(yōu)勢(shì)：  20Hz~3MHz頻率范圍  0.05%基本測(cè)量精度  無(wú)限序列通過(guò)/失敗測(cè)試  4-BNC連接器，用于快速前面板測(cè)試  內(nèi)置20節(jié)點(diǎn)開(kāi)爾文矩陣，用于高速生產(chǎn)測(cè)試  可編程電壓或電流驅(qū)動(dòng)器  大型熒光背光圖形顯示  通過(guò)直接RS232下載可輕松升級(jí)軟件  內(nèi)置電容式觸摸板  寬廣的測(cè)量范圍  測(cè)試線補(bǔ)償和夾具補(bǔ)償  內(nèi)部存儲(chǔ)超過(guò)100個(gè)程序  三個(gè)可編程集成設(shè)置  獨(dú)有的低成本夾具平臺(tái)  全球最快的生產(chǎn)測(cè)試儀  OLE驅(qū)動(dòng)器 測(cè)試參數(shù)：  C 繞組間電容  CTY 導(dǎo)通性  R 直流電阻  RLP 交流電阻---并聯(lián)電路  RLS 交流電阻---串聯(lián)電路  Z 阻抗  LP 電感值---并聯(lián)電路  LS 電感值---串聯(lián)電路  LPB 加偏置電流的電感值---并聯(lián)電路  LSB 加偏置電流的電感值---串聯(lián)電路  QL 品質(zhì)因素  ANGL 負(fù)阻抗的幅角  TR 匝比和相位  IR 絕緣電阻（最高500V）  ZB 加偏置電流的阻抗  D 損失因素  C2 電容匹配  GBAL 總體縱向平衡  L2 電感匹配  ILOS 插入損耗  LL 漏感  LLO 漏感（用戶歸零）  LBAL 縱向平衡  OUT 用戶端口繼電器控制  PHAS 繞組相位  RLOS 反射損失  TRL 電感匝數(shù)比  TRIM 微調(diào)零件  LOVC 低壓開(kāi)路 還有很多。。。。。。（包括THD、諧振頻率、邏輯標(biāo)記、阻抗匹配，等等） 如果需要測(cè)量更高電壓或更大功率 ，包括進(jìn)行交流和直流高壓絕緣測(cè)試，請(qǐng)考慮使用AT3600。 AT3600與ATi的區(qū)別： AT3600 ATi AC高壓測(cè)試 √（最高5.5KV） × DC高壓測(cè)試 √（最高7KV） × 磁化電流 √（最高270V） × 開(kāi)路電壓 √（最高270V） × 感應(yīng)電壓 √（最高270V） × 鐵耗 √（最高270V） × 泄漏電流 √（最高270V） × 浪涌測(cè)試 √（最高5KV） × 絕緣電阻 √（最高7000V） √（最高500V）