高低溫儲(chǔ)存試驗(yàn)
高溫試驗(yàn)作為 *常用的試驗(yàn),用于元器件和整機(jī)的篩選、老化試驗(yàn)、壽命試驗(yàn)、加速壽命試驗(yàn),同時(shí)在失效分析的驗(yàn)證上起重要作用。 低溫試驗(yàn)用于考核產(chǎn)品在低溫環(huán)境下貯存和使用的適應(yīng)性,常用于產(chǎn)品在開發(fā)階段的型式試驗(yàn)、元器件的篩選試驗(yàn)等。 依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)高溫測(cè)試:GB/T 2423.2 IEC 60068-2-2低溫測(cè)試:GB/T 2423.1 IEC 60068-2-1 EIA-364-59