非接觸式半導(dǎo)體計(jì)量分析技術(shù)的開(kāi)發(fā)和生產(chǎn) ,攻克被國(guó)外卡脖子技術(shù)。
產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光伏、科研以及平板材料測(cè)試領(lǐng)域。借助公司先進(jìn)計(jì)量分析測(cè)試技術(shù),為晶圓、碳化硅、硅片、氧化鎵、封裝測(cè)試等生產(chǎn)和品質(zhì)監(jiān)控,提供一整套完整測(cè)試和解決方案。
晶圓電阻率測(cè)試儀,硅片電阻率測(cè)試儀,渦流法低電阻率分析儀,晶錠電阻率分析儀,遷移率(霍爾)測(cè)試儀,少子壽命測(cè)試儀,