• 移動平臺：精密的三維移動平臺

•  天瑞儀器作為一個集儀器研發(fā)、系統(tǒng)設(shè)計、產(chǎn)品生產(chǎn)、服務(wù)提供為一身的綜合性儀器供應(yīng)廠商，一直以來嚴(yán)格遵循“360°優(yōu)質(zhì)服務(wù)”的客戶服務(wù)理念，以提高顧客滿意度為根本目標(biāo)，從服務(wù)力量、服務(wù)流程、服務(wù)內(nèi)容等各個方面為客戶提供全方位的優(yōu)質(zhì)服務(wù)。

• 性能優(yōu)勢

• 精密的三維移動平臺
  卓越的樣品觀測系統(tǒng)
  先進的圖像識別 
  輕松實現(xiàn)深槽樣品的檢測
  四種微孔聚焦準(zhǔn)直器，自動切換
  雙重保護措施，實現(xiàn)無縫防撞
  采用大面積高分辨率探測器，有效降低檢出限，提高測試
  全自動智能控制方式，一鍵式操作!
  開機自動退出自檢、復(fù)位 
  開蓋自動退出樣品臺，升起Z軸測試平臺，方便放樣 
  關(guān)蓋推進樣品臺，下降Z軸測試平臺并自動完成對焦 
  直接點擊全景或局部景圖像選取測試點 
  點擊軟件界面測試按鈕，自動完成測試并顯示測試結(jié)果

• 技術(shù)指標(biāo)

• 分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U） 
  同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層
  檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm
  分析含量：一般為2ppm到99.9% 
  國產(chǎn)鍍層測厚儀鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）重復(fù)性：可達0.1%
  穩(wěn)定性：可達0.1%
  SDD探測器：分辨率低至135eV
  采用先進的微孔準(zhǔn)直技術(shù)，小孔徑達0.1mm，小光斑達0.1mm
  樣品觀察：配備全景和局部兩個工業(yè)高清攝像頭
  準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 
  Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
  儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
  樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
  樣品臺尺寸：393(W)x 258 (D）mm
  X/Y/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 高速度333.3mm/s
  X/Y/Z平臺重復(fù)定位 ：小于0.1um
  操作環(huán)境濕度：≤90%
  操作環(huán)境溫度 15℃～30℃

• 樣品腔尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

• 分析范圍：同時可以分析30種以上元素，五層鍍層

• 檢出限：可達2ppm，薄可測試0.005μm

• 鍍層厚度：一般在50μm以內(nèi)（每種材料有所不同）重復(fù)性：可達0.1%

• 同時檢測元素：多24個元素，多達五層鍍層

• 準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合

國產(chǎn)鍍層測厚儀是專門針對鍍層厚度測量而精心設(shè)計的一款新型高端儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定；黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測。

實驗表明，使用Thick800A XRF錫層電鍍層測厚儀對鍍件膜厚測試，結(jié)果準(zhǔn)確度高，速度快（幾十秒），其測試效果完全可以和顯微鏡測試法媲美。樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線；探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號；經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號并送入計算機進行處理；計算機獨有的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息，通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預(yù)處理；分析時間短，僅為數(shù)十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm。