X射線熒光光譜儀EDX4500產(chǎn)品技術(shù)指標(biāo)
測(cè)量元素范圍:從鈉(Na)到鈾(U)
元素含量分析范圍: ppm—99.99%(不同元素,分析范圍不同)
同時(shí)分析元素:一次性可測(cè)幾十種元素
測(cè)量時(shí)間:60秒-200秒
探測(cè)器能量分辨率為:145±5eV
管壓:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
測(cè)量對(duì)象狀態(tài):粉末、固體、液體
輸入電壓:AC 110V/220V
環(huán)境溫度:15℃-30℃
環(huán)境濕度:35%-70%
外形尺寸:660mm×510mm×350mm
樣品腔體積:Φ320mm×100mm
重量:65Kg
高效超薄窗X光管,指標(biāo)達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平
最新的數(shù)字多道技術(shù),讓測(cè)試更快,計(jì)數(shù)率達(dá)到100000CPS,精度更高。在合金檢測(cè)中效果更好
SDD硅漂移探測(cè)器,良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性,較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測(cè)元素,對(duì)Si、P等輕元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng),屏蔽空氣的影響,大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性
高信噪比的電子線路單元
針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片,免去手工操作帶來的繁瑣
解譜技術(shù)使譜峰分解,使被測(cè)元素的測(cè)試結(jié)果具有相等的分析精度
多參數(shù)線性回歸方法,使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)(管壓、管流、真空度)一目了然
標(biāo)準(zhǔn)配置
高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測(cè)器
數(shù)字多道技術(shù)
鋼鐵行業(yè)測(cè)試專用配件
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu),力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
真空泵
應(yīng)用領(lǐng)域
鋼鐵檢測(cè)、全元素分析、有害元素檢測(cè)(RoHS、鹵素等)