ST-SP2000系列
半導(dǎo)體分立器件測試篩選系統(tǒng)
可測試 19大類27分類 的大中小功率分立器件及模塊的 靜態(tài)直流參數(shù)
(測試范圍包括Si/SiC/GaN材料的 IGBTs/DIODEs/MOSFETs/BJTs/SCRs 等器件)
主極2000V / 50~1250A,分辨率較高至1mV / 10pA
支持曲線掃描圖示功能
?產(chǎn)品應(yīng)用
應(yīng)用領(lǐng)域
院所、高校、半導(dǎo)體器件生產(chǎn)廠商、電源、變頻器、逆變器、變流器、數(shù)控、電焊機、白色家電、新能源汽車、軌道機車等所有的半導(dǎo)體器件應(yīng)用產(chǎn)業(yè)鏈 ……
主要用途
? 測試分析(功率器件研發(fā)設(shè)計階段的初始測試)
? 失效分析(對失效器件進行測試,查找失效機理。以便于對電子整機的整體設(shè)計和使用過程提出改善方案 )
? 選型配對(在器件焊接至電路板之前進行全部測試,將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進行分類配對)
? 來料檢驗(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對入廠器件進行抽檢/全檢,把控器件的良品率)
? 產(chǎn)線自動化測試(可連接機械手、掃碼槍、分選機等各類輔助機械設(shè)備,實現(xiàn)規(guī)?;⒆詣踊瘻y試)
?產(chǎn)品簡述