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電氣元件高低溫沖擊測試

    高低溫沖擊試驗目的是考察電氣元件在突然遭到溫度劇烈變化時之抵抗能力及適應能力的試驗

    高低溫沖擊試驗主要用于考察剪切和疲勞損傷引起的失效，特別在元器件存在虛弱部位 具有開路隱患時，或由于元器件材料和結(jié)構(gòu)設(shè)計不當具有開裂隱患時，高低溫沖擊試驗具有比較好的鑒別效果。

試驗原理
    溫度的劇烈變化伴隨著熱量的劇烈變化，熱量的劇烈變化引起熱變形的劇烈變化，從而引起劇 烈的應力變化。應力超過極限，電氣元件便會出現(xiàn)裂紋、甚至斷裂。熱沖擊之后能否正常工作便表 明電氣元件的抗熱沖擊能力。

溫度變化類試驗項目有眾多名稱：
    溫度沖擊、冷熱沖擊、溫度變化、溫度循環(huán)、溫度交變、快速溫變、溫度梯度、分級溫度等名稱。且不同體系的標準中應用的試驗方法是不同的。

冷熱沖擊試驗有兩種方式：氣體法和液體法

    冷熱沖擊試驗是一個加速試驗，模擬車輛中大量的慢溫度循環(huán)。對應實際車輛溫度循環(huán)，用較快的溫度變化率及更寬的溫度變化范圍，加速是可行的。失效模式為因老化和不同的溫度膨脹系數(shù)導致的材料裂化或密封失效。本試驗將導致機械缺陷（裂縫），不要求帶電工作。

    高低溫沖擊試驗有幾個重要參數(shù)需要考慮：循環(huán)數(shù)、溫度轉(zhuǎn)換時間、溫度保持時間、溫度極限值（因此項試驗為存儲類試驗，故其極限值為存儲極限溫度值）。
 
參考標準
GB/T2423.22環(huán)境試驗：溫度變化
GJB150.5設(shè)備環(huán)境試驗方法_溫度沖擊試驗
GJB360.7電子及電氣元件試驗方法 溫度沖擊試驗
GJB367.2通信設(shè)備通用技術(shù)條件 環(huán)境試驗方法

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