名片曝光使用說明

步驟1:創(chuàng)建名片

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步驟2:投放名片

創(chuàng)建名片成功后,將投放名片至該產(chǎn)品“同類優(yōu)質(zhì)商家”欄目下,即開啟名片曝光服務(wù),服務(wù)費(fèi)用為:1虎幣/天。(虎幣充值比率:1虎幣=1.00人民幣)

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加工定制
類型
數(shù)字超聲檢測儀
品牌
藍(lán)巢
型號(hào)
LCUD-70
測量范圍
0~20m;0.1、1以及20mm步進(jìn)自動(dòng)設(shè)置
工作溫度
-18-45(℃)
分辨率
高亮、真彩TFT顯示器、5.7彩屏
尺寸
210x168x48(mm)(mm)
重量
1.8(kg)
適用范圍
正檢波/負(fù)檢波/全檢波/射頻






產(chǎn)品概述:

LCUD-70型數(shù)字式超聲波探傷儀是小型化的便攜式超聲波探傷儀器,特別適用于材料缺陷的評(píng)估和定位、壁厚測量等,適合各種大型工件和高分辨率測量的要求。LCUD-70數(shù)字超聲波探傷儀超越了傳統(tǒng)儀器電路和系統(tǒng)設(shè)計(jì)的框架,通過把更新的的嵌入式系統(tǒng)設(shè)計(jì)技術(shù)和創(chuàng)新設(shè)計(jì)的高性能模擬電子電路融合,組成高度集成化數(shù)模混合一體化系統(tǒng),使之更、簡化,穩(wěn)定。
產(chǎn)品別稱:數(shù)字超聲波探傷儀,便攜式超聲波探傷儀,便攜式數(shù)字超聲波探傷儀,手持式超聲波探傷儀......

LCUD-70產(chǎn)品特點(diǎn):

  • ● 滿足歐標(biāo)[EN12668]的設(shè)計(jì)
    ● 高性能TFT顯示器 具有大尺寸,高亮度,高清晰度真彩顯示效果
    ● 多功能接口 適用于USB通信或在系統(tǒng)編程
    ● 可配置環(huán)境界面 增強(qiáng)的人機(jī)界面炫彩效果,多背景模式
    ● 至少1000組數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及分析能力
    ● 大檢測范圍:具有高靈敏度余量能力,檢測范圍可延伸至20米
  • ● 寬范圍脈沖重復(fù)頻率 針對不同晶粒和工件厚度,設(shè)置超低或較高的重復(fù)頻率達(dá)到0佳檢測的效果,如消除幻像波,極大提高檢測適應(yīng)性。
    ● 智能測量及顯示 提供高速檢測條件下的缺陷測量處理能力,如旋轉(zhuǎn)工件掃查。
    ● 寬頻帶電路 具有良好的放大器特性,和寬頻帶特性,不論使用低頻或高頻探頭,或檢測不同材料時(shí)候提供更好的檢測效果
    ● 大檢測范圍 具有高靈敏度余量能力,可延伸至20米的檢測范圍和強(qiáng)大的信號(hào)分辨能力,而且具有0小0.1mm的連續(xù)可調(diào)量程,選擇合適的量程和相應(yīng)的探頭可獲得更佳的近場分辨率。
    ● 多模式探頭校準(zhǔn) 提供高度自動(dòng)化的探頭調(diào)校模式,更快捷、準(zhǔn)確、簡單地校準(zhǔn)探頭和儀器;或提供傳統(tǒng)的人工調(diào)校模式,提供向前兼容性,通過自由的選擇極大提高了操作靈活性。
    ● 智能曲線管理 提供的(DAC)曲線,(TCG)補(bǔ)償功能,以及 (DGS/AVG)曲線功能;支持靈活的擴(kuò)展曲線設(shè)置,多種檢測標(biāo)準(zhǔn),使檢測結(jié)果更信賴。
    ● 實(shí)時(shí)測量計(jì)算 實(shí)現(xiàn)檢測數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)定量計(jì)算,通過直觀、可配置的顯示、讀數(shù)模式,展現(xiàn)實(shí)時(shí)檢測結(jié)果,充分體現(xiàn)數(shù)字儀器的魅力。
    ● 擴(kuò)展掃查器功能 實(shí)現(xiàn)外接掃查器集控能力,使儀器以圖像掃查模式工作,讓儀器的功能更強(qiáng)大、全面,實(shí)現(xiàn)一機(jī)多用。
    ● 多功能接口 適用于USB通信或在系統(tǒng)編程,方便用戶通過計(jì)算機(jī)應(yīng)用軟件管理探傷數(shù)據(jù),或靈活的對儀器應(yīng)用系統(tǒng)進(jìn)行升級(jí)。
    ● 高標(biāo)防護(hù)性機(jī)殼 德國工藝合金材質(zhì),IP65防護(hù)等級(jí),外形輕巧,便于操持,特殊設(shè)計(jì)的散熱結(jié)構(gòu),使之適應(yīng)于惡劣的工業(yè)環(huán)境,具備抗電磁輻射能力,品質(zhì)堅(jiān)如磐石。
    產(chǎn)品應(yīng)用:
    本儀器提供三種類型的實(shí)用測高法支持,使用戶在探傷過程中快捷準(zhǔn)確地對檢測過程及結(jié)果進(jìn)行定量分析,測高類型定義如下:
    ●反射法:由于入射波入射到裂紋的端點(diǎn),有一部分將沿著原路反射,稱為端點(diǎn)反射回波。端點(diǎn)反射回波法是通過測量主聲束入射到裂紋頂端時(shí),所產(chǎn)生的端點(diǎn)回波聲程計(jì)算裂紋的高度。
    ●衍射法(單探頭):由于入射波入射到裂紋的端點(diǎn),有一部分將沿著原路反射,稱為端點(diǎn)反射回波;同時(shí),根據(jù)惠更斯原理,在其邊緣會(huì)有衍射現(xiàn)象發(fā)生,產(chǎn)生新激發(fā)的衍射回波。端點(diǎn)衍射回波法是通過測量主聲束入射到裂紋頂端時(shí),所產(chǎn)生的端點(diǎn)反射回波來辨認(rèn)衍射回波,并通過裂紋兩端點(diǎn)衍射回波之間的延遲時(shí)間差值計(jì)算裂紋的高度。
    ●衍射法(雙探頭):根據(jù)惠更斯原理,在其邊緣會(huì)有衍射現(xiàn)象發(fā)生,產(chǎn)生新激發(fā)的衍射回波。端點(diǎn)衍射回波法是通過測量主聲束入射到裂紋頂端時(shí),所產(chǎn)生的端點(diǎn)反射回波來辨認(rèn)衍射回波,并通過裂紋兩端點(diǎn)衍射回波之間的延遲時(shí)間差值計(jì)算裂紋的高度。



產(chǎn)品推薦
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