紅外光譜是分析化合物結(jié)構(gòu)的重要手段。常規(guī)的透射法使用壓片或涂膜進(jìn)行測(cè)量，對(duì)某些特殊樣品( 如難溶、難熔、難粉碎等的試樣) 的測(cè)試存在困難。為克服其不足，產(chǎn)生了傅里葉變換衰減全反射紅外光譜儀（Attenuated Total Refraction, ATR）。美信分析采用的紅外光譜儀，常規(guī)方法和ATR都可以使用的先進(jìn)設(shè)備。ATR的應(yīng)用極大地簡(jiǎn)化了一些特殊樣品的測(cè)試，使微區(qū)成分的分析變得方便而快捷，檢測(cè)靈敏度可達(dá)10-9g數(shù)量級(jí)，測(cè)量顯微區(qū)直徑達(dá)數(shù)微米。

衰減全反射技術(shù)（ATR）與常規(guī)紅外分析的優(yōu)勢(shì)：

 與常規(guī)的紅外技術(shù)相比無(wú)需制樣，無(wú)需破壞樣品，直接對(duì)單絲、布料、成衣進(jìn)行鑒定，大大提高了檢驗(yàn)速度；操作方便。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明，該方法操作方便、測(cè)量靈敏度高，可得到高質(zhì)量的紅外譜圖。

舉例說(shuō)明衰減全反射技術(shù)（ATR）與常規(guī)紅外分析的區(qū)別：

由上圖可知，衰減全反射技術(shù)（ATR）與常規(guī)紅外分析的差異在與4000~2000 cm-1區(qū)域ATR的紅外光譜強(qiáng)度較弱。但是在指紋區(qū)的吸收峰與常規(guī)紅外光譜無(wú)異，所以不影響譜圖的判斷，圖譜的質(zhì)量相對(duì)較高。

衰減全反射技術(shù)（ATR）的原理：

ATR附件基于光內(nèi)反射原理而設(shè)計(jì)。從光源發(fā)出的紅外光經(jīng)過(guò)折射率大的晶體再投射到折射率小的試樣表面上，當(dāng)入射角大于臨界角時(shí),入射光線就會(huì)產(chǎn)生全反射。事實(shí)上紅外光并不是全部被反射回來(lái),而是穿透到試樣表面內(nèi)一定深度后再返回表面在該過(guò)程中，試樣在入射光頻率區(qū)域內(nèi)有選擇吸收,反射光強(qiáng)度發(fā)生減弱，產(chǎn)生與透射吸收相類(lèi)似圖,從而獲得樣品表層化學(xué)成份的結(jié)構(gòu)信息。

簡(jiǎn)介

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