http://www.lind.cn/cn/product/product-69-776.html 瑞典XCounter雙能光子計數(shù)X射線探測器PDT25-DE 小平板探測器，直接成像探測器，MINI平板，CdTe-CMOS傳感器，光子計數(shù)探測器，雙能光子計數(shù)X射線探測器，X射線探測器，CMOS傳感器，線陣探測器，線陣探測器，平板探測器，微型平板探測器 產(chǎn)品描述：PDT25-DE 緊湊型、直接數(shù)字轉(zhuǎn)換、雙能采集、光子計數(shù)X射線探測器，用于數(shù)字X射線成像系統(tǒng)，基于新型強大的CdTe-CMOS傳感器平臺研發(fā)而成，PDT25-DE是一個小視場探測器，適用于潛在寬泛的能量范圍。 PDT25-DE可以基于幀率成像，也可以采用時間延遲總和（TDS）模式。 引進反符合技術(shù)的雙能采集功能，是PDT25-DE先進之處，在雙能采集過程中，通過兩個獨立的閾值將探測到的光子能量加以比較，并分別讀出，雙能設(shè)置可用作材料分析，這為新的醫(yī)學(xué)和工業(yè)X射線成像技術(shù)開啟了大門。反符合技術(shù)的運用，確保將每一個光子信號分布在適當(dāng)?shù)南袼攸c上，從而獲得更高的能量分辨率。 集成 通過高速率USB接口將PDT25-DE連接到計算機上，自帶靈活的軟件開發(fā)包，可控制所有PDT25-DE的功能；可用在Windows XP、Vista 、Windows7和Windows8系統(tǒng)平臺上。 應(yīng)用 *小范圍輻照 *小動物成像 *實驗室樣品和標(biāo)本成像 *反向散射成像 *工業(yè)檢測（NDT） 特點和優(yōu)勢 *CdTe-CMOS傳感器，高品質(zhì)成像 *雙能采集，具有材料區(qū)分能力 *反符合技術(shù)，卓越的能量分辨率 *可基于幀率成像，也可以選擇時間延遲總和（TDS）模式 *兼容Windows操作系統(tǒng)，從XP到Windows8 *配有功能強大的系統(tǒng)軟件 技術(shù)參數(shù) 物理參數(shù) 尺寸 （L×W×H）：94×54×20mm 重量：150g（235g 帶鎢防護） 溫度控制：Internal Peltier溫度控制 環(huán)境溫度： 15 - 45℃ 儲藏溫度：-10 - 50℃ @ 10% -95% 濕度 較大消耗功率：10W 射線窗：碳纖維， 厚250μm 射線屏蔽：根據(jù)應(yīng)用 傳感器 傳感器類型：雙能光子計數(shù) CdTe-CMOS 傳感器厚度：0.75mm-2.0mm CdTe 有效面積：25.6×25.6 mm2 像素：100μm 像素填充率： 性能 幀率：較高35fps 動態(tài)范圍：12 bits 曝光時間：100μs-5s （通過軟件，可以設(shè)置更長時間） DQE（0）：85%@RQA5 spectra MTF：＞80% @ 2lp/mm ＞45% @ 5lp/mm 管KV范圍：15-140 kVp 內(nèi)部測試模式：偽隨機調(diào)試模式 外部觸發(fā)輸出：3.3 V TTL 輸入：3-15V 滯后：0% 拖影：＜0.1% X射線開啟后1分鐘（12μGy） 分辨率和DQE曲線 （反符合開CC on和閉CC off）