類型 組合式粗糙度儀 品牌 三豐mitutoyo 型號 SV-C3100 / SV-C4100 Formtracer (表面粗糙度 / 輪廓測量裝置) SV-C3100 / SV-C4100 特點 • 大幅提高的驅(qū)動速度(X 軸: 80 mm/s, Z2 軸立柱: 20mm/s) 進(jìn)一步減少了總的測量時間。 • 為了更長時間地保持直線度，三豐公司采用了抗老化且極耐磨的非常堅固的陶瓷導(dǎo)軌； • 驅(qū)動器 (X 軸) 和立柱 (Z2 軸) 均配備了高精度線形編碼器 (其中Z2 軸上為ABS 型)。因此，在垂直方向?qū)π】走B續(xù)自動測量、對較難定位部件的重復(fù)測量的重復(fù)精度得以提高。 基本技術(shù)參數(shù): 基座尺寸 (W x H): 750 x 600mm 或 1000 x 450mm 基座材料: 花崗巖 重量 　主機(jī): 140kg (S4), 150kg (H4), 220kg (W4) 140kg (S8), 150kg (H8), 220kg (W8) 　控制器: 14kg 　遙控箱: 0.9kg 電源: 100 – 240VAC ±10%, 50/60Hz 能耗: 400W (主機(jī)) 輪廓測量技術(shù)參數(shù): X 軸 　測量范圍: 100mm 或 200mm 　分辨率: 0.05µm 　檢測方法: 反射型線性編碼器 　驅(qū)動速度: 80mm/s、外加手動 　測量速度: 0.02 - 5mm/s 　移動方向: 向前／向后 　直線度: 0.8µm / 100mm, 2µm / 200mm * 以X 軸為水平方向上 　直線位移: ±(1+0.01L)µm (SV-C3100S4, H4, W4) 　精度 (20° C 時) ±(0.8+0.01L)µm (SV-C4100S4, H4, W4) ±(1+0.02L)µm (SV-C3100S8, H8, W8) ±(0.8+0.02L)µm (SV-C4100S8, H8, W8) * L 為驅(qū)動長度(mm) 　傾角范圍: ±45° Z2 軸 (立柱) 　垂直移動: 300mm 或 500mm 　分辨率: 1µm 　檢測方法: ABSOLUTE 線性編碼器 　驅(qū)動速度: 0 - 20mm/s、外加手動 Z1 軸 (檢測器) 　測量范圍: ±25mm 　分辨率: 0.2µm (SV-C3100), 　 0.05µm (SV-C4100) 　檢測方法: 線性編碼器 (SV-C3100), 　 激光全息測微計 (SV-C4100) 　直線位移: ±(2+I4HI/100)µm (SV-C3100) 精度 (20° C 時) ±(0.8+I0.5HI/25)µm (SV-C4100) *H: 基于水平位置的測量高度(mm) 　測針上／下運作: 弧形移動 　測針方向: 向上／向下 　測力: 30mN 　跟蹤角度: 向上: 77° , 向下: 87° (使用配置的標(biāo)準(zhǔn)測頭，依表面粗 糙度而定) 測針針尖 尖端半徑: 25µm、硬質(zhì)合金尖端 表面粗糙度測量的技術(shù)參數(shù)： X1 軸 　測量范圍: 100mm 或 200mm 　分辨率: 0.05µm 　檢測方法: 線性編碼器 　驅(qū)動速度: 80mm/s 　移動方向: 向后 　直線度: (0.05+1.5L/1000)µm (S4, H4, W4 型) 0.5µm/200mm (S8, H8, W8 型) Z2 軸 (立柱) 　垂直移動: 300mm 或 500mm 　分辨率: 1µm 　檢測方法: ABSOLUTE 線性編碼器 　驅(qū)動速度: 0 - 20mm/s、外加手動 檢測器 　范圍／分辨率: 800µm / 0.01µm, 80µm / 0.001µm, 8µm / 0.0001µm (2400µm 使用測頭選件) 　檢測方法: 無軌／有軌測量 　測力: 4mN 或 0.75mN (低測力型) 　測針針尖: 金剛石、90º / 5µmR (60º / 2µmR: 低測力型) 　導(dǎo)頭曲率半徑: 40mm 　檢測方法: 差動電感式