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低溫撓卷試驗裝置
低溫撓卷試驗裝置標準:JIS-C3005、UL1581、GB、IEC、VDE
低溫撓卷試驗裝置說明:
導體斷面積100mm2以下之試料在本機內(nèi)冷卻1小時后,立即以均勻之速度卷繞于規(guī)定直徑之圓桿上。斷面積100mm2以上之試料,則先行卷繞,再冷卻相同之時間后,立即以反方向卷繞于圓桿上。取出試料,檢視其表面產(chǎn)生龜裂、裂痕。
低溫撓卷試驗裝置技術參數(shù):
溫度
Temp. 冷卻方式
Cooling method 降溫速度
Cooling speed 精度
Accuracy 材質
Material 圓桿
Rod 內(nèi)箱
Test chamber 線套 體積
Dimension
(W×D×H) 重量
Weight 電源
Power
-40~ 130℃ 氣冷式
Air Frozen 常溫
Room temp. ~-40℃,
60min ±2℃ 內(nèi)外箱,
SUS304# Φ4.0~37.5mm,共12支 45×50×50cm Φ3.5/6/
10/12/
16mm
各2只 100×80×135cm 262kg 1∮
AC 220V 30A