白光干涉儀供應商，白光干涉儀批發(fā)，白光干涉儀價格，白光干涉儀圖片AE-100M 產品用途 結合光學顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡，結合顯微物鏡與干涉儀、不需要復雜光調整程序，兼顧體積小、納米分辨率、易學易用等優(yōu)點，可提供垂直掃描高度達400um的微三維測量，適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測。應用領域包含 產品特點 ● 納米深度3D檢測 ● 高速/無接觸量 ● 表面形狀/粗糙度分析 ● 非透明/透明材質皆適用 ● 非電子束/非鐳射的安全量測 ● 低維護成本 級的3D圖形處理與分析軟體（Post Topo） ● 提供多功能又具親和接口的3D圖形處理與分析 ● 提供自動表面平整化處理功能 ● 提供高階標準片的軟件自校功能 ● 深度/高度分析功能提供線型分析與區(qū)域分析等兩種方式 ● 線型分析方式提供直接追溯ISO定義的表面粗糙度（Rorghness）與起伏度 ● （waviness）的測量分析。可提供多達17種的ISO量測參數與4種額外量測數據（Wafer） ● 區(qū)域分析方式提供圖形分析與統(tǒng)計分析。 ● 具有平滑化、銳化與數字過濾波等多種二維快速利葉轉換（FFT）處理功能。 ● 量測分析結果以BMP等多種圖形檔案格式輸出或是Excel文本文件格式輸出 高速精密的干涉解體軟體(ImaScan) ● 系統(tǒng)硬件搭配ImgScan前處理軟件自動解析白光干涉條紋 ● 垂直高度可達0.1nm ● 高度的分析算法則，讓你不在苦候測量結果 ● 垂直掃描范圍的設定輕松又容易 ● 有10X、20X、50X倍率的物鏡可供選擇 ● 平臺XYZ位置數顯示，使檢標的尋找快速又便利 ● 具有手動/自動光強度調整功能以取得的干涉條紋對比。 ● 具有高精度的PVSI與高速VSI掃描測量模式供選擇。 ● 具有專利的解析算法則可處理半透明物體的3D形貌。 ● 具有自動布補點功能 ● 可自行設定掃描方向 技術規(guī)格參數 型號 AE-100M 移動臺(mm) 平臺尺寸100*100 ，行程13*13 物鏡放大倍率 10X 20X 50X 觀察與量測范圍 0.43*0.32 0.21*0.16 0.088*0.066